|

Laboratorium Pomiarów Mikroskopowych i Nanomechanicznych

Wyposażenie tego laboratorium pozwala na kompleksowe badania parametrów fizycznych powierzchni materiałów. Umożliwia również charakterystykę lokalnych właściwości mechanicznych powierzchni materiałów oraz włókien.

Mikroskop sił atomowych AFM (Agilent 5500)

Pomiary AFM/STM w powietrzu, dowolnej atmosferze, ze zmienną temperaturą próbki (od –20 do 200°C). Pomiary statyczne i dynamiczne, mapowanie właściwości powierzchni (elektrycznych, mechanicznych, magnetycznych), wyznaczenie potencjału powierzchniowego. Wielkość obszaru skanowania do 90 mikrometrów, subnanometrowa zdolność rozdzielcza w kierunku osi x, y, z.

MOŻLIWOŚCI BADAWCZE
- praca w atmosferze powietrza, w cieczy lub w gazie ochronnym,
- komora rękawicowa,
- tryb mapowania przewodności elektrycznej, namagnesowania oraz pracy wyjścia,
- tryb elektrochemiczny.

MATERIAŁY MOŻLIWE DO ZBADANIA
- ciała stałe w postaci materiałów litych lub cienkich warstw,
- metale, ceramiki, polimery, układy biologiczne.

ZASTOSOWANIE
- obrazowanie nanostruktur,
- określenie średnicy porów na powierzchni materiału,
- analiza chropowatości powierzchni,
- pomiar wysokości mikro i nanostruktur powierzchniowych,
- analiza wielkości wytrąceń na powierzchni materiału,
- badanie wpływu procesów elektrochemicznych na strukturę powierzchni, w tym odporności na korozję.

POTENCJALNI ODBIORCY
- metalurgia, przemysł ceramiczny i polimerów,
- przemysł elektrochemiczny,
- biotechnologia,
- przemysł elektroniczny.

Nanoindenter (Agilent G200)

Określenie właściwości mechanicznych (moduł elastyczności, tarcie, twardość) dowolnych materiałów. Możliwa zmiana temperatury in-situ od pokojowej do 250°C. Mapowanie właściwości mechanicznych i możliwość skanowania powierzchni przed i po badaniu. Test na zarysowanie. Standardowa głowica pomiarowa: maksymalna siła 500 mN, rozdzielczość siły 50 nN, rozdzielczość przemieszczenia 0,01 nm; głowica DCMII: maksymalna siła 30 mN, rozdzielczość siły 3 nN, rozdzielczość przemieszczenia 0,0002 nm.

Nanozrywarka (Agilent T150)

Aparat ten pozwala na próby zrywania włókien naturalnych, sztucznych i metalicznych. Bardzo wysoka precyzja pomiarów pozwala badać pojedyncze włókna (np. jedwabiu pajęczego). Maksymalna siła 500 mN, rozdzielczość sił 50 nN, rozdzielczość przemieszczenia 0,01 nm, maksymalne rozciąganie 200 nm.

Wysokorozdzielczy środowiskowy skaningowy mikroskop elektronowy (Quanta 250 FEG, FEI)

Praca w warunkach wysokiej i niskiej próżni oraz w trybie środowiskowym ESEM. Badanie dowolnych materiałów przewodzących i nieprzewodzących, możliwość obrazowania SE i BSE w każdym trybie pracy. Praca w trybie STEM.

WYPOSAŻENIE DODATKOWE: automatyczny trymer Leica EM TXP, modularny system napylania próżniowego (kombinacja systemu napylania metalami i węglem)
Q15OT ES.

MOŻLIWOŚCI BADAWCZE
- tryb wysokiej próżni, niskiej próżni i środowiskowy,
- analizator EDS (EDAX), analiza ilościowa i mapowania składu chemicznego próbki,
- analizator WDS LEXS (EDAX) – tylko próbki przewodzące elektrycznie,
- analizator EBSD (EDAX) – tylko próbki przewodzące elektrycznie.

MATERIAŁY MOŻLIWE DO ZBADANIA
- ciała stałe w postaci: proszków, materiałów litych lub cienkich warstw,metale,
- ceramiki, polimery, układy biologiczne,
- próbki lite w rozmiarze od kilku milimetrów do kilku centymetrów.

ZASTOSOWANIE
- obrazowanie mikrostruktury,
- pomiary grubości osadzonej warstwy,
- określenie wielkości ziaren proszków,
- analiza składu pierwiastkowego,
- mapowanie rozkładu pierwiastków,
- określenie jednorodności materiału,
- obrazowanie komórek biologicznych,
- mapowanie orientacji krystalograficznej struktur powierzchniowych.

POTENCJALNI ODBIORCY
- metalurgia, przemysł ceramiczny i polimerów,
- proszki.

Mikroskop konfokalny materiałowy (Olympus LEXT OLS4100)

Obserwacje i pomiary struktur powierzchniowych w świetle odbitym, obrazy 3D, polaryzacja, analiza chropowatości, przekroje. Szybka akwizycja obrazu i wysoka rozdzielczość obrazu w szerokim zakresie. Źródło światła: laser półprzewodnikowy 405 nm, całkowite powiększenie 108× – 17280×. Rozdzielczość pomiaru wysokości 10 nm, rozdzielczość x-y 120 nm.

Mikroskop konfokalny biologiczny (Olympus FV1200)

Wyposażony w dwa detektory GaAsP, z możliwością obrazowania żywych komórek, kompensacja dryfu termicznego osi z, pięć równoległych kanałów detekcji, lasery wzbudzające: 405 nm, 458/488/515 nm,
559 nm, 635 nm.

Mikroskop polaryzacyjny (Olympus BX-52)

Wysokiej jakości mikroskop polaryzacyjny pozwala na identyfikację materiałów izotropowych i anizotropowych, cienkich folii polimerowych, analizę kryminalistyczną oraz identyfikację cząsteczek i statystykę rozmiarów obiektów na powierzchni próbki. Obserwacje w świetle odbitym i przechodzącym, pełna polaryzacja. Pomiary XY oraz kamera do rejestracji obrazu. Obiektyw do 100×.

Analizator powierzchni właściwej (ASAP 2420 Micromeritics)

Analiza powierzchni właściwej materiałów mikro- i mezoporowatych oraz pomiar izotermy, dający informacje o kształcie porów w materiale. Pomiar sorpcji azotu w temperaturze 77 K. Wyposażony w 4 porty analityczne i 8 portów odgazowania.

ZASTOSOWANIE
- przemysł farmaceutyczny,
- ceramika,
- węgle aktywne, sadza,
- przemysł wulkanizacyjny,
- farby i powłoki,
- katalizatory,
- implanty,
- elektrochemia.